Probing Handlerのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
イプロスは、 製造業 BtoB における情報を集めた国内最大級の技術データベースサイトです。

Probing Handler - メーカー・企業と製品の一覧

Probing Handlerの製品一覧

1~1 件を表示 / 全 1 件

表示件数

Probing Handler "PCP-103SL/303N"

Achieving probing compatible with multiple simultaneous measurements! Correcting misalignment after dicing.

We would like to introduce the "PCP-103SL/303N" handled by Plum Five Co., Ltd. Inspection of diced WLCSPs and packaged substrates (BGA, QFN, etc.) is realized through our unique probing method. By adopting our proprietary XY position correction function and profiling function, we have enabled probing that accommodates multiple simultaneous measurements by correcting the positional deviations caused by film tension after dicing and "distortion" or "deflection" from the dicer blade. 【Features】 ■ XY position correction probing ■ Multi-area alignment ■ Compatible with diced WLCSPs and packaged substrates (BGA, QFN, etc.) ■ Capable of inspection with chip reattachment to film frames ■ Employs a ring clamp method that is not affected by film sag *For more details, please refer to the PDF document or feel free to contact us.

  • probe
  • Semiconductor inspection/test equipment

ブックマークに追加いたしました

ブックマーク一覧

ブックマークを削除いたしました

ブックマーク一覧

これ以上ブックマークできません

会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます

無料会員登録